先進のレジストモデル作成ツールAdvanced Resist Modeling Infrastructure (ARMI)



PanTuneによるレジストキャリブレーション
User-Written Resist Modelsでユーザモデル作成

Panoramic Technology Incはレジストのモデル化に注力しています。
研究者がご自身でレジストモデルを作成し、
このモデルに実験データを合わせこむことが望まれています。
また、このデータなどは機密扱いで、レジストモデル化の専門知識は社内に留めておきたいということも望まれています。
このような背景で、先進のレジストモデル化基盤ARMIが開発されました。

○ PanTune(TM)でレジストモデルの合わせこみ
○ UWRM APIでご自身のレジストモデルの作成

PanTune(TM) チューナの特長

  • ○ シミュレーションした結果と測定結果を合わせこんでパラメータを見つけることで、ご自身のレジストモデルを較正します
  • ○ どのようなレジストモデル(完全な物理モデル、拡散イメージモデル、化学増感モデル、パノラミックモデルなど)にも合わせこみが可能です
    検査装置などほかのシミュレーションも出来ますが、そのようには設計されていません。
  • ○ HyperLithの厳密マスクモデル(マスク3D効果)の全てのパワーを使うことで、スキャナーモデルへの現実的な合わせこみが出来ます
  • ○ 実験データをファイルとして、又はカット/貼付けで簡単にインポートできます
  • ○ 実験データ、シミュレーション結果両方に有効範囲が設定できます
  • ○ SimRunner(ネットワーク/分散処理)で動作します
  • ○ ユーザは結果に完全にアクセスできます
    暗号化した機密のレジストモデルパラメータではありません
  • ○ レジストの合わせこみを社内で行うことで、時間と費用が節約できます

User-Written Resist Models (UWRM) ユーザ作成レジストモデルの特長

  • ○ ご自身のレジストモデルを社内で作成できます
  • ○ 簡単で且つ強力なJava(tm)での応用プログラミング(API)
  • ○ HyperLithやEM-Suite GUIで黄色のフィールドのノブとして現せます
  • ○ Thinまたはthick、空間イメージ、レジストの中のイメージなどをベースとしたモデルが現像時間のレベル設定関数や現像速度を返すことで、HyperLithが開発をしてくれます
  • ○ Panoramicが提供する高度なサポート(コーディングの支援を含みます)、沢山の例題